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Air-Protection Module
Air-protection module은 공기 노출 없이 시료를 SEM으로 이송할 수 있는 Air-free Transfer 솔루션으로, air-sensitive 소재를 본래 상태 그대로 분석할 수 있도록 설계되었습니다.
시료와 외부 대기가 완전히 차단되도록 설계되어, Ion-beam Polisher에서 단면 가공을 수행한 후 SEM으로 이송하여 분석하거나, SEM에 직접 장착하여 표면 관찰을 수행할 수 있습니다. 이를 통해 대기 노출로 인한 산화 및 오염을 방지하고, 보다 정확하고 신뢰성 높은 분석 결과를 제공합니다.
“Air-free Transfer, True Analysis”
Air-protection Module
Key Benefits
- 대기 민감 시료의 산화 및 오염 방지
- 글러브 박스에서 SEM 또는 Ion Milling 장비로 직접 이송 가능
- 배터리 소재, 반응성 금속, 민감 소재 분석에 최적
- 전처리 및 분석 과정에서 시료의 원래 상태 유지
제품사양
Air protection Module(SEM ONLY)
| Size | φ 50 mm × 46 mm | – |
| Max Sample Size | Φ42 mm × 11 mm | – |
| Max Sample Size (with pin stub) |
Φ42 mm × 8 mm | Pin stub (φ7, φ25.4, φ12 (45° Tilt)) |
| Operating Vacuum | >1×10E-6 torr | – |
| Applicable SEM Models | CX-200K, CX-300 | – |
Air Protection Module(IP-10K, SEM)
| Size | φ 50 mm × 46 mm | – |
| Max Sample Size | 12(W) × 10(D) × 7(H) mm 9(W) × 10(D) × 11(H) mm |
– |
| Max Sample Size (with pin stub) |
10(W) × 10(D) × 2(H) mm | 1 EA |
| Operating Vacuum | >1×10E-6 torr | – |
| Applicable SEM Models | IP-10K, CX-200K, CX-300 | – |
| Option | Sample Stub Holder (AP) Sample Height Tool |
1 EA 1 EA / 30 μm, 50 μm, 80 μm |
