Equipo de alta resolución, de tipo compacto para escritorio y de operación sencilla.

Rango de magnificación: 80 a 250,000X. Muy superior en 25% a los demás sistemas de SEM de sobremesa del mercado.

Voltaje de aceleración ajustable de 1 kV a 30 kV continuo, superior tanto en el rango bajo como alto comparado con otros proveedores, permitiendo accesar directamente a 5 10 15 20 y 25 KeV con el toque de un botón.

Captura de imágenes en formato JPEG, TIFF y BMP.

Resolución de imagen: 960×600, 1920×1200 y 3840×2400 pixeles.

Resolución especifica: 5 nm (modo alto vacío) y 10 nm (modo bajo vacío)

El equipo se diseña con PRESION VARIABLE (control de presión de cámara) , es decir con ambos modos de alto vacío y bajo vacío, con control de presión de cámara, que permite la observación de muestras no conductoras sin necesidad de recubrimiento metálico, manteniendo una resolución como las mencionadas.

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El equipo admite muestras de  50 mm de diámetro y 20 mm de altura, compatibles con portamuestras metálicos estándares que permiten reducción de carga para optimizar la observación de especímenes no conductores sin necesidad de metalizado o adaptadores para portaobjetos especiales, con el fin de facilitar el análisis de diversas muestras entre ellas orgánicas ( alimentos, polímeros, microfósiles calcáreos y silíceos como diatomeas y cocolitofóridos, etc) e inorgánicas.

El equipo permite la observación de detalles estructurales de las muestras en el rango de 50 a 500 nanómetros, con una resolución efectiva de 5 nm en modo alto vacío, y una magnificación útil que permita distinguir estos elementos con nitidez.

Sistema AUTOMATICO Controlado por computadora tanto en los ejes “X” “Y” y “Z” para facilitar el posicionamiento preciso y el movimiento automatizado de las muestras. El sistema EM40 integra 2 pantallas de 27″ cada una, superior a la mayoría de las pantallas de 21″ ó 24″ de los demás SEMS del mercado. Una para el SEM COXEM como tal  (Imagen Morfología y Topografía) y una para el análisis por EDS ( Análisis químico) .

Las muestras a observar pueden mostrar detalles y estructuras de 1 a 10 micras o incluso menores.

INTEGRA una Fuente de emisión de electrones de filamento de tungsteno ( Pistola electrónica) precentrado de fábrica en montaje Wehnelt.

Dimensiones del EM40 : 450 mm de ancho, 750 mm de profundidad y 750 mm de altura.

Alimentación: CA 110V a 220V, 50/60 Hz.

El Modelo EM40 presenta montaje Multidetector :

+Detector de electrones secundarios;

+Detector de electrones retrodispersados;

El sistema EM40 permite generar imágenes duales solapadas utilizando ambos detectores Secundario y Retrodispersado para lograr el mejor efecto óptimo de Profundidad de campo y Resolución espacial.

+Detector de Espectroscopia de energía dispersiva de Rayos X – EDX Modelo XCompact OXFORD.

Tipo de detector: SDD (Silicon Drift Detector), con enfriamiento termoeléctrico tipo Peltier (SIN requerir N₂ líquido).

LA MAYOR Área activa del mercado para un detector en SEM de sobremesa (“tamaño de ventana”): 30 mm².

Ventana de rayos X: ventana ultra delgada de nitruro de silicio (Si₃N₄), que permite detección de elementos desde boro (B) hasta californio (Cf)

Resolución energética: Mn Kα ≤ 129 eV, la MAYOR RESOLUCION DE UN DETECTOR DE EDS en el mercado de Microscopios electrónicos de Barrido de sobremesa.

Procesamiento: analizador multicanal de 2048 canales a 10 eV/canal

Tasa máxima de conteo: 400,000 cps

Software.

Interfaces de control específicas y necesarias para la operación del equipo.

Manual de operación en español.

Garantía de 2 años.